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產(chǎn)品型號(hào)：81594B
產(chǎn)品代碼：81594B
產(chǎn)品價(jià)格：0
產(chǎn)品編碼：81594B
計(jì)量單位：臺(tái)
折 扣 率： 0
最后更新：2014-02-08
關(guān) 注 度：3540
生產(chǎn)企業(yè)：深圳市東測(cè)科技有限公司
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產(chǎn)品詳細(xì)介紹Agilent 81594B 模塊
Agilent/HP安捷倫81594B插件模塊
詳細(xì)資料：
主要性能指標(biāo)： 插入損耗<1.5分貝 PDL<0.05分貝單一模式選項(xiàng)
最高重復(fù)性超過10.000隨機(jī)開關(guān)周期規(guī)定：0.02分貝
描述
該插件模塊安捷倫光波解決方案平臺(tái)的8163B，8164B，8166B是在應(yīng)用，
如收發(fā)器/接收器與復(fù)雜的級(jí)聯(lián)與小尺打印或多個(gè)被動(dòng)元件測(cè)試的測(cè)試靈活的系統(tǒng)配置的理想選擇。
安捷倫的光學(xué)開關(guān)的模塊化設(shè)計(jì)，具有低插入損耗和高重復(fù)性的交換機(jī)，
路由<10毫秒切換時(shí)間的SMF和MMF的2x2矩陣。
在不同wavelenght范圍內(nèi)的各種光，如激光源路由和路由等各種光接收機(jī)功率傳感器，示波器，BERT。
特點(diǎn)：
最高重復(fù)性超過10.000隨機(jī)開關(guān)周期規(guī)定：0.02分貝
優(yōu)點(diǎn)： 使用在所有傳輸帶的DUT測(cè)試的測(cè)試設(shè)置。
測(cè)試的不確定性最小化，
最大化的功率預(yù)算，使較高的生產(chǎn)產(chǎn)生一個(gè)競(jìng)爭(zhēng)激烈的產(chǎn)品規(guī)格 盡量減少測(cè)試時(shí)間 –
最大限度地提高生產(chǎn)吞吐量。 傳輸信號(hào)的影響最小。
Key Features & Specifications
Key performance specifications:
• Insertion Loss < 1.5dB
• Guaranteed lifetime > 10 Mio. cycles
• PDL < 0.05dB for single-mode option
• Highest repeatablity specified over 10.000 random switch cycles: 0.02dB
Description
The plug-in module for Agilent's Lightwave Solution Platform 8163B, 8164B, 8166B is ideal for flexible system configuration in applications such as transceiver/receiver test with small foot-print or multiple passive component test with complex cascade. The Agilent modular design of the optical switch features a 2x2 matrix in both SMF and MMF with low insertion loss and highly repeatable switch routing in <10 ms switching time.
Routing of various optical sources such as laser in various wavelenght range and routing of various optical receiver such as power sensor, oscilloscope, BERT.
Features:
• Highest repeatablity specified over 10.000 random switch cycles: 0.02dB
• Guaranteed lifetime > 10 Mio. cycles
Benefits:
• Using one test setup for testing DUTs in all transmission bands.
• Minimize test uncertainties, maximize power budget enables higher production yield an highly competitive product specifications
• Minimize test times - maximize production throughput.
• Minimal influence on transmitted signal.
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| 會(huì)員級(jí)別：免費(fèi)會(huì)員 |
| 加入時(shí)間：2013-12-27
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